超聲波掃描顯微鏡利用材料內(nèi)部組織因密度不同而對(duì)超聲波聲阻抗、超聲波吸收與反射程度產(chǎn)生差異的特點(diǎn),從而實(shí)現(xiàn)對(duì)材料內(nèi)部缺陷的定性分析,在半導(dǎo)體封裝及材料等行業(yè)中得到廣泛應(yīng)用??煞直娉霾牧?、元器件內(nèi)部的裂紋、空洞、氣泡、分層缺陷、雜質(zhì)等。
德國(guó)PVA TePla所擁有的頂尖制造和眾多的專利確立了其在超聲掃描顯微鏡領(lǐng)域中難以逾越的領(lǐng)導(dǎo)地位,主要體現(xiàn)在:1、將現(xiàn)代薄膜技術(shù)引入了超聲換能器的制造,使得換能器的頻率達(dá)到世界領(lǐng)先地位,最高頻率可以達(dá)到2000MHz, 采用薄膜技術(shù)制造的其他頻率的換能器與傳統(tǒng)的壓電陶瓷技術(shù)制造的換能器相比,可以做到外徑更小、分辨率更高、穿透能力更強(qiáng)、使用壽命更長(zhǎng);
2、最新研發(fā)的超聲波信號(hào)濾波器、前置放大器,使超聲波掃描顯微鏡達(dá)到前所未有的圖像分辨率,2000MHz(即2GHz)最高分辨率可達(dá)0.2um;
3、采用世界上最先進(jìn)的高速線性馬達(dá)驅(qū)動(dòng)電機(jī),使超聲波掃描顯微鏡的重復(fù)精度可以達(dá)到0.05微米,實(shí)際可用掃描速度達(dá)到2000mm/秒;
4、擁有世界專利技術(shù)的多探頭超聲波掃描顯微鏡,可同時(shí)對(duì)多個(gè)樣品進(jìn)行掃描,或?qū)σ粋€(gè)大尺寸的樣品進(jìn)行分區(qū)掃描,然后再圖像組合,極大提高檢測(cè)效率,為現(xiàn)今的芯片、MEMS、IGBT、晶圓鍵合、元器件、SMT焊接器件等需要大批量檢測(cè)的應(yīng)用領(lǐng)域提供了最好的解決方案;
5、擁有世界專利的自動(dòng)對(duì)焦技術(shù),在多探頭的掃描系統(tǒng)中,每一個(gè)探頭都能實(shí)現(xiàn)自動(dòng)對(duì)焦,從而大大地降低了人工對(duì)焦的操作負(fù)擔(dān)。
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