- [常見問答]X-RAY檢測(cè)BGA焊接不良-虛焊、枕頭效應(yīng)、錫裂、短路等2021年07月04日 10:19
- BGA在電子產(chǎn)品中應(yīng)用非常普遍，與QFP、QFN、PLCC封裝器件相比，BGA元件具有引腳數(shù)目多、引腳間電感及電容更小、引腳共面性好、電性能和散熱性能好等優(yōu)點(diǎn)。 BGA缺點(diǎn)也十分明顯：BGA在焊接完成之后，由于其焊點(diǎn)全部在器件本體腹底之下，因此既無(wú)法采用傳統(tǒng)的目測(cè)方法觀測(cè)檢驗(yàn)全部焊點(diǎn)的焊接質(zhì)量，也不能用AOI對(duì)焊點(diǎn)外觀做質(zhì)量評(píng)判，目前通用的方式均采用X-RAY對(duì)BGA器件焊點(diǎn)的物理結(jié)構(gòu)進(jìn)行無(wú)損透視檢測(cè)。 X-RAY是通過X射線的實(shí)時(shí)成像技術(shù)，實(shí)現(xiàn)對(duì)BGA焊點(diǎn)的質(zhì)量
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